レーザー回折／散乱式粒子径分布測定装置

【主な仕様】 ・測定原理：Mie散乱理論 ・測定粒子径範囲：20nm～2000μm ・測定時間：20秒（測定開始～結果表示） ・光源：He-Neレーザ（632.8nm）, タングステンランプ(400nm) ・検出器：リング状75分割Siフォトダイオード、Siダイオード ・循環系：超音波プローブ　30W, 22.5kHz ・使用温度：室温 ・必要試料量：フロー式セル使用；10mg～5g（分散媒200mL） ・バッチ式セル使用；10mL（透過率75-90%） 【その他】 中古品のため、現状有姿販売となります。 新品時の性能・機能を持ち合わせていない場合がございますので、ご了承ください。